TD-LTE技術試驗系統幀結構檢驗內容
文章出處:正航儀器
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發表時間:2016-01-12
♧ 檢驗分項:上行/下行配備1(子幀配備:DSUUDDSUUD)、常規長度CP、格外子幀配備5(DwPTS:GP:UpPTS=3:9:2)。
♧ 檢驗目的:驗證E-UTRAN支持5ms下行-上行轉換點周期,子幀配備為:DSUUDDSUUD;支持DwPTS:GP:UpPTS=3:9:2的格外子幀配備。
檢驗條件:
♧ eNodeB和協作檢驗終端硬件、軟件均支持上行/下行配備1,格外子幀配備5;UE已簽約。
♧ 檢驗進程:配備eNodeB系統上行/下行配備1、格外子幀配備5,選擇配備20MHz系統帶寬;使配備收效,E-UTRAN小區初步正常工作。
♧ 用矢量信號分析儀對eNodeB、終端的發射信號進行時域分析;檢驗終端在該小區開機進行隨機接入;檢驗終端進行RRC聯接建立、無線承載建立等進程,并查詢系統給終端調度的上行、下行本錢塊地點子幀方位。
♧ 預期效果:配備的小區能正常工作;幀結構符合配備預期;終端接收到的SIB1中的subframeAssignment為sa1(配備1),specialSubframePatterns為ssp5(配備5);檢驗終端能在該小區正常接入;檢驗終端能在該小區正常建立數據無線承載。
♧ 可以驗證系統能在全部(常規)上行子幀、下行子幀/時隙內調度終端(調度給不一樣UE或先后調度給同一UE)。
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